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X射线粉末衍射仪

更新日期：2020-04-22

品牌：日本理学

型号：ULTIMA IV

主要参数：

测角仪扫描范围:-3^o-145^o

X-射线波长:CuKa

测角仪半径:≥150mm

角度最小步进:1/1000°

设定重复性:1/1000°

最大定位速度: 1000^o/分

分辨率≥100微米

线性范围：大于10e8 cps

主要用途：

1.物相定性、定量分析，结构测定与精修；

2.晶粒尺寸与晶格畸变分析；

3.介孔有序性与孔径分布分析，纳米颗粒尺寸分布和比表面分析；

4.薄膜面内衍射与物相定性分析，薄膜厚度与物性分析,外延生长膜分析；

5.残余应力分析；

6.微区二维衍射分析。

文章来源：福建省海洋传感功能材料重点实验室（闽江学院） 编辑： 【打印文章】【返回顶部】